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压电陶瓷元件平面度测量技术,海科思有好方法

文章出处:网责任编辑:作者:人气:-发表时间:2020-02-07 17:04:00

 压电陶瓷元件应用场景非常广泛,涵括但不仅限于半导体技术、光电子、通信与集成光学、光学仪器设备、纳米技术、纳米制造与纳米自动化、航空航天、图像处理等,压电陶瓷元件可根据定制需求,做成不同的形状来满足定制规格。高规格的压电陶瓷元件各项外观尺寸精度要求都十分高,因为各项尺寸都会影响到压电陶瓷元件的灵敏性,压电陶瓷保证功能性其中一项指标就是灵敏性,所以不单单是各项外观尺寸精度要求高,而且还不能够损伤到压电陶瓷元件表面。压电陶瓷元件很多时候需要做成一片片的外观,这时候就需要测量它的平面度了,但是如果使用塞尺测量平面度必定会磨损压电陶瓷片的表面形貌,影响其灵敏度,而且塞尺的精度也会随着塞尺自身的磨损导致精度不足,但是现在海科思有更好的方法来测量压电陶瓷的平面度。

 

海科思的激光平面度测量仪采用非接触式测量,测量压电陶瓷片平面度精度高还不会破坏其表面形貌,保证了PCB屏蔽盖的完整性,不影响性能。激光平面度翘曲度测量仪可实现对平面的多点扫描或线扫描,一次性数据采集后通过专业软件计算,实时给出平面度平整度翘曲度误差测量判定,测量压电陶瓷片的平面度更加直观与简单。

 

海科思有多款平面度测量仪可供挑选,欢迎致电海科思服务热线:400-0528-668

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